0755-86347753

手机光传感器高低温变形测试

显微应变测试DIC系统

在手机光传感器的高低温变形测试中,光传感器需要经受从20℃降至-40℃,再升至200℃的极端温度变化。为了确保光传感器在这些温度条件下的性能稳定性,精确测量其在不同温度环境下的微小变形至关重要。海塞姆视觉应变测量系统以其先进的数字图像相关(DIC)技术,为这一测试提供了可靠的解决方案。

传统的接触式测量方法在处理微小元件时,尤其是在极端温度下,往往面临精度不足和环境干扰的问题。接触式传感器在温度剧烈变化时可能会引入误差,甚至对光传感器这样的敏感组件造成物理损伤。而海塞姆视觉应变测量系统采用非接触式的测量方式,通过高分辨率的图像捕捉和精确的应变计算,成功避免了这些潜在问题。

图片70.png   图片71.png

试件尺寸和测试布置

在测试过程中,光传感器的表面形变被实时捕捉,系统能够精准跟踪温度变化引起的微小应变,并即时输出应力应变曲线。这一过程不仅提供了高精度的变形数据,还通过生成的可视化图像,直观展示了光传感器在不同温度条件下的应变分布情况。这些数据对于分析光传感器的热膨胀、收缩以及由此引发的性能变化具有重要意义。

通过该系统的应用,研究人员能够深入了解光传感器在极端温度环境下的力学行为,为确保产品在各种使用条件下的可靠性提供了科学依据。这一高效、精准的测试过程,大大提升了光传感器在极端温度下的稳定性研究,推动了更为可靠的手机光学组件的开发与应用。

图片72.png


×

icon资料下载